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共有 144 筆發表文章,共分為15 頁.
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2002/7/11太克科技股份有限公司
Tektronix 首推可選波長10 Gb/s傳輸測試系統 光測試系統上的新功能強調 10 Gb/s 網路元件與系統創新測試的市場需求 為光設備設計者及製造商提供創新測試與量測工具的領導廠商Tektronix,近日發表模組化光測試系統系列產品的加強版與新功能。 光設備製造商需要密集波長分割多工技術(Dense Wavelength Division Multiplexing, DWDM)產品,將更多通道封包輸出至光纖纜線中。這種更緊實的通道間隔可以增加現有光網路的收益能力。但在設計與製造光纖組件、元件與系統時,則需要更緊密的容許度與改善的測試方法。為了滿足客戶的需求,Tektronix OTS9100系列的新卡提供多種創新的功能,包括業界首創的可選擇的全面整合波長 10 Gb/s 測試系統。此系統所帶來的高度彈性可讓客戶組裝低成本的測試系統配置,並可加速高容量 10 Gb/s 產品的設計與生產。
2002/7/11太克科技股份有限公司
Tektronix協助研發人員克服最新藍芽測試的挑戰 BPA105 藍芽通訊協定分析儀可即時顯現藍芽產品互通性的問題 無線技術測試設備同時也是藍芽研究小組(Bluetooth™ Special Interest Group,SIG)成員的領導廠商Tektronix,近日發表加強版藍芽通訊協定分析儀,隨時可以提供設計師開發藍芽產品時所需的最新測試需求。 由於超過500種藍芽產品達到相容狀態,使得藍芽產品處於開發產品相容性階段。因此,工程師正面臨開發藍芽產品的新挑戰,即主要的產品與其他藍芽裝置互通性的問題。而逐漸增加的藍芽產品種類也帶來更多的變異性、複雜度以及無線獨立產品彼此之間如何互通的問題。Tektronix新式的BPA105藍芽通訊協定分析儀硬體與2.3版的軟體可為藍芽主從網路內產品的互通性提供無可比擬的可見性,讓使用者更容易找出並解決產品互通性的問題。
2002/7/11太克科技股份有限公司
Tektronix任命Bob Agnes 為監控與通訊協定測試部門副總裁 全球測試、量測與監控設備的知名廠商Tektronix今日宣布指派Bob Agnes為其監控與通訊協定測試(Monitoring and Protocol Test,簡稱MPT)事業部的副總裁。 在新的職務中,Agnes所負責的業務是監控與通訊協定測試方案的全球運作及策略開發。Tektronix MPT事業部門專注於行動網路及基礎建設的設計驗證、開發、監控與管理,目前市面上的K12xx系列通訊協定測試器與NET-GPRS監控系統即為其最具代表的兩項產品。
2002/6/17太克科技股份有限公司
Tektronix與New Wave共同發表新一代電腦架構的測試軟體組件 New Wave開發的支援組件 協助以Tektronix TLA600/700邏輯分析儀偵錯及分析電腦設計 電腦數位設計主要推動者Tektronix, Inc. (NYSE:TEK) 以及匯流排分析產品主要提供者New Wave 近日共同發表新一代電腦架構的三種偵錯軟體組件。
2002/5/29太克科技股份有限公司
Tektronix 將 MPEG 分析能力提升至新境界 在MTS300上添加新功能; 提供折價優惠 MPEG-2壓縮數位視訊測試與量測設備的世界知名廠商Tektronix,近日在其榮 獲艾美獎的MPEG測試系統產品上增加新功能,藉以提供更深度的分析能力,並同時加入可以啟動開發互動式電視 (interactive television,簡稱iTV) 的功能。
2002/5/21太克科技股份有限公司
Tektronix榮獲美國廣播電視工程師協會認可與表揚 在美國國家廣播協會(National Association of Broadcasters)舉行的大會中,測試與量測儀器領導廠商,Tektronix公司,獲得廣播電視工程師協會(Society of Broadcast Engineers,SBE)的認可,表揚其屆滿二十五周年的貢獻。 參與SBE永久會員已二十五年,Tektronix是極其重要的成員,負責協助聯絡其他個別會員,以期在技術與產品方面,能驅動整個廣播界,同時並提供SBE各計畫與事件的支援。
2002/5/20太克科技股份有限公司
Merix 採購Tektronix高速取樣示波器進行數位電路測試 TDS8000 數位取樣示波器可用於測試各種先進的電路板 測試與量測設備的知名供應商 Tektronix, Inc. (NYSE: TEK) 於日前宣布,Merix已經採購一批Tektronix數位取樣示波器,用於其高密度電路之測試。Merix是一家先進電路板的知名廠商,所生產的電路板多用於精密的電子設備。
2002/5/13太克科技股份有限公司
Tektronix 軟體工具使光學裝置測試自動化 並加速設計與生產 以Windowsâ 2000為基礎的新功能實際排除反覆的測試設定, 及早找出瑕疵裝置 為光學設備製造商帶來創新測試與量測解決方案的領導者Tektronix, Inc. (NYSE: TEK),近日發表適用於光學測試系統的軟體增強技術,它省略了反覆設定的時間和冗長的測試執行,能以較低的成本獲得較高的產量。
2002/5/10太克科技股份有限公司
Tektronix邁入光學元件及DWDM 實體層的測試 新產品可更快且更準確的測試主要DWDM 元件, 能滿足光網路對低成本容量成長之需求 位居光通訊技術的創新領導者Tektronix , Inc. (NYSE: TEK),今日發表光學測試系統實體層量測應用之新系列產品,它為密集波長分割多工 (DWDM) 元件及網路元件的光學設備製造商設定高準確度、高解析度,及高生產率之新效能測試。
2002/4/10太克科技股份有限公司
Tektronix 併購 Profile 公司 併購案擴充了光參數測試的產品陣容 為鞏固提供光元件製造商測試與量測解決方案的市場地位,Tektronix, Inc. 近日簽署一項併購光元件測試與量測科技領導者 Profile Optische Systeme GmbH 的同意書。 Profile 將與 Tektronix 的光通訊事業群整合,擴充公司在實體層測試方面的產品陣容,並且提供未來光網路測試解決方案的建置組塊。這項交易的財務細節並未公佈。